鋼結構檢測

5.6.1.1 撓（náo）度（dù）測量

先（xiān）將水準尺直立於杆件上（shàng）翼緣測點或用直尺倒置頂於杆件的下翼緣測點（diǎn），用水準儀讀取讀數，再以杆件兩端點測點連線為基（jī）線，據此計算出杆件中間測點的相（xiàng）對變形。如（rú）遇到支撐應增（zēng）加測點。

本次（cì）水平構件的（de）撓度測量宜采用水準儀或激（jī）光測距儀進行檢測，選取構件支座及跨中的3點作為測點（diǎn），量測構件（jiàn）支座（zuò）與跨中的相對高差，利用該（gāi）相對高差計算構件（jiàn）的撓度。使用徠卡TCR1202全站儀測（cè）量杆件撓度，抽樣比（bǐ）例按建築結構抽樣檢測的最（zuì）小樣本（běn）容量（liàng）執行。

5.6.1.2 水平、垂直位移（yí）和扭曲值測量

現場利用平台打孔的方法，使用鉛垂儀將上、下各休息平（píng）台的坐（zuò）標聯係起來，然後再（zài）進行柱子點觀測測量。采用（yòng）水準儀配合塔尺或無棱鏡反射技術全站儀進（jìn）行測（cè）量（liàng），並計算出塔頂結構的垂直位移。

5.6.1.3 垂直度測（cè）量

因豎向構（gòu）件（jiàn）的垂直度是衡量構件使用性能的重要指標，同時還會影響（xiǎng）構件（jiàn）的（de）承載力（二次彎矩的影響），因此對垂直度的傾斜測量是非常必要的，在現場可使用徠卡TCR1202全站儀配合鋼尺投點法（fǎ）進行測（cè）量（liàng）垂直度，抽（chōu）樣比例按建築結（jié）構（gòu）抽樣檢測的最小樣本（běn）容（róng）量執行。

5.6.1.4 構件尺寸複核

對於主要承（chéng）重的鋼構件截麵尺寸，根據（jù）設計圖紙使用鋼卷尺或鋼直尺複核構件尺寸，同類（lèi）構件不少於5件（有缺陷的優先（xiān））。

5.6.1.5 外觀缺陷（xiàn）檢測（cè）

構件外觀缺陷檢測，包（bāo）括：主材、輔材、支撐係統等。

全麵檢測構件的外觀缺陷，如（rú）：變形、破損、鏽蝕、歪閃等。用照片和文字形式予（yǔ）以紀錄。檢（jiǎn）測結果可（kě）按照嚴重缺陷（xiàn）和一般缺陷記錄，對嚴重缺陷處還應記錄缺陷的部位、範圍等信息，以便（biàn）在抗力計算時考慮缺陷的影響。

對於塔身結構可根（gēn）據溫差原理利用紅外熱（rè）成像技術來測試塔身缺陷。用於建（jiàn）築工程檢測的紅外熱像儀，應具有檢（jiǎn）測（cè）物體發出的紅外線放射能的傳感器和將測得信號圖像化的裝置，並應包括圖像處理、分析、儲（chǔ）存、輸出等裝置，其中紅外熱像儀（yí）宜選用8~13μm波段的長波機。其性能指標應符合下（xià）列要求：

（1）檢測範圍宜在0-500℃；

（2）分辨溫度應小（xiǎo）於0.1℃；

（3）檢（jiǎn）測精度宜在±0.5%滿量程以（yǐ）內；

（4）所得圖（tú）像像素範圍不宜小於300bit×200bit；

（5）瞬間可見區域不應小於2.5mrad。

紅外熱像儀（yí）的使用環境應符合下列要求：

（1）環境溫度應在（zài）0~40℃；

（2）環境濕度不應大於90%,且無結（jié）霜；

（3）鏡頭嚴禁受（shòu）陽光直（zhí）射；

（4）測定位（wèi）置、角度（dù）不應對圖像處理精度產（chǎn）生（shēng）影響。

目前對建築缺陷（xiàn）的檢驗，一定要注意使用條件：

能避免檢（jiǎn）測受季節、天氣、時間、氣溫（wēn）、牆麵方位、攝影機距離、材料色（sè）彩、建（jiàn）築物內冷暖等的明顯影響；

與被測對象相鄰的（de）建築物不阻擋（dǎng）陽光射到被測麵上；

晴天，室外風速溫度無急劇變（biàn）化；

被測建築物與紅外檢測裝置之間無樹木等（děng）障礙物遮（zhē）擋；

被測麵不受粉塵、煙（yān）霧、水蒸氣（qì）等不利因素影（yǐng）響；

 紅外（wài）技術屬於無損檢測，其特點是（shì）能夠遠（yuǎn）離（lí）測量物體表（biǎo）麵的輻射溫度。此方法具有非接觸、遠距離、實（shí）時、快速、全場測量等優點，是其他檢（jiǎn）測方法無（wú）法相比的。

5.6.1.6 焊縫無損檢測（cè）

對受力的重點區域的構件（包括承重設備管道）連接焊縫、梁、柱連（lián）接（jiē）焊（hàn）縫、鋼支撐與梁柱連接（jiē）焊縫、梁柱構件對接（jiē）焊縫等進行抽檢（jiǎn），具體檢（jiǎn）測部位根據現場已打磨部位確定。

具體檢測工藝及方法（fǎ）如下：

滲透檢測（cè）工藝

1）質量控製要（yào）求

a）滲透劑的質量控製要求；

滲透劑的（de）質量用相對密度、顏色濃度、外觀質量、顯示缺（quē）陷的能力等參數控（kòng）製（詳見標準JB/T 4730.5—2005中3.2.1的規定）。熒光滲透劑的熒光效率不得低於（yú）75%。

b）顯像劑的質量控製要求；

顯像劑的質量用工作濃度範圍、有無混濁變色、能否（fǒu）形成薄而均勻的顯像層、有無粉（fěn）末凝聚（jù）和殘（cán）留熒光、噴罐表（biǎo）麵有無鏽蝕、噴罐是否泄（xiè）露、檢測性能、對工件有無腐蝕、對人體基本無毒害作用等參（cān）數控製（詳見JB/T 4730.5 —2005中3.2.2的規定）。

2）現場操作（zuò）

a）受檢表麵要求：

⑴受檢表麵粗糙度Ra≤12.5μm。

⑵受檢表麵及鄰（lín）近25㎜的範圍內應清潔、幹燥，不得（dé）有油汙、浮鏽、塗料、焊渣及飛濺。

3） 滲透檢測方法

a）滲透（tòu）檢測基本步驟

⑴預清洗；

⑵施加滲透劑；

⑶去除多餘的滲透劑；

⑷幹燥；

⑸施加顯像劑；

⑹ 觀察及（jí）評定。

b）滲透檢測方法分類

根據滲透劑和顯像劑種類的不同，滲透檢（jiǎn）測方法可按表5.1進行分（fèn）類。

                         滲透檢測方（fāng）法分（fèn）類                  表5.1

滲透劑		滲透劑的去除		顯像劑
分類	名（míng）稱	方法	名稱	分類	名稱
Ⅰ Ⅱ Ⅲ	熒光滲透（tòu）檢測 著色（sè）滲透檢測 熒光、著色滲透檢（jiǎn）測	A B C D	水洗滲透檢測 親油型後乳化滲透檢測 溶劑去除型滲透檢測 親水型後乳化（huà）滲透檢測	a b c d e	幹粉顯（xiǎn）像劑 水溶解顯像劑（jì） 水懸浮顯像劑 溶劑懸浮顯像劑 自顯（xiǎn）像（xiàng）
注：滲透檢（jiǎn）測方法代號（hào）示例：ⅡC-d為溶（róng）劑去除型著色滲透劑（溶劑懸浮顯像劑）。

c）滲透檢測靈敏度（dù）等級

靈敏度等級分類如下：1級——低靈敏度；2級——中靈敏度（dù）；3極（jí）——高靈敏度。

不同靈敏度等級在鍍鉻試塊上可顯示的裂紋區位數應按表（biǎo）5.2的（de）規定。

靈敏度等（děng）級                    表5.2

靈敏度等級	可顯示的裂紋區位（wèi）數
1級	1~2
2級	2~3
3級	3

4）複檢

a）當出現下列情況之一時，應進行複檢（jiǎn）。

(1) 檢測結束（shù）時，用靈敏度試（shì）片驗證靈敏度（dù）不符合要求時；

(2) 發現檢測過程中操作方法（fǎ）有誤時；

(3) 對檢測結（jié）果有爭議；

(4)有其它需要。

b）複檢應按1.4有關規定進行。

5）滲透檢測質量分級

                   焊接接頭的質量分級                  表5.3

等級（jí）	線性缺陷	圓形（xíng）缺陷（評定框尺寸35mm×100mm）
Ⅰ	不允許	d≤1.5,且（qiě）在評定框內少於（yú）或等於1個
Ⅱ	不允許	d≤4.5,且在評定框內少於或等於4個
Ⅲ	L≤4	d≤8,且在（zài）評定框內少於或等於6個
Ⅳ	大於Ⅲ級
注：L為線性缺陷長度（dù）,mm；d為圓形缺陷（xiàn）在任何方（fāng）向上的最大（dà）尺寸，mm。

6）滲透檢測報告

報告至（zhì）少應包括以下內（nèi）容：

a）委托單位、委托單編號（hào）、工藝卡編號、原始記錄編號；

b）被檢工件：名稱、編號、規格、材質、坡口型式（shì）、焊（hàn）接方法和熱處理狀況；

c）檢測設備：滲透檢測劑名稱、牌號和編號；

d）檢測規範：檢測比例、檢測靈（líng）敏度校驗及（jí）試塊名稱，預清洗方法、滲透劑施加方法、乳化劑施加方法、去除方法、幹燥（zào）方（fāng）法、顯像劑施加（jiā）方法、觀察方（fāng）法和後清洗方法，滲透溫（wēn）度、滲透時間、乳化（huà）時間、水壓及水溫（wēn）、幹（gàn）燥溫度和時間（jiān）、顯像時間；

e）滲透顯示記錄及工件草圖（或示意圖）；

f）檢測結果及質量分級、檢測標準名稱和驗收等級；

g）檢測人員和責任人員（yuán）簽字（zì）及其技術資格；

h）檢（jiǎn）測日期。

超聲檢測技術和檢測工藝

1）超聲檢測技術等級

a）超聲檢測技術等級選擇

超聲檢測技（jì）術等級分為A、B、C三個檢測級別。超聲檢測技術（shù）等級選擇應符合製造、安裝、在用等有關規定、標準及設計圖樣規定。

b）不同檢測技術等級的要求

⑴ A級適（shì）用於母材（cái）厚度為8mm～46mm的對接焊接接（jiē）頭。可用一種（zhǒng）K值探頭采用（yòng）直射波法和一次反射波法在對接焊接接頭的單麵單側進行檢測。一般不要求進行橫向缺陷的檢測。

⑵ B級（jí）檢測（cè）：

Ⅰ）母材厚度為8mm～46mm時，一般用一種K值探頭采用（yòng）直射波法和一次反射波法在對接焊接接頭的（de）單麵（miàn）雙側進行檢測（cè）。

Ⅱ）母材（cái）厚度為大於8mm至（zhì）46mm時（shí），一般用一種K值探頭采用（yòng）直射波法在焊接接頭的（de）雙麵雙側進行檢（jiǎn）測，如受（shòu）幾何條（tiáo）件的限製，也可在焊（hàn）接接頭的（de）雙麵單側或單麵雙側采用兩種K值探頭進行檢測。

Ⅲ）母材厚度為（wéi）大於（yú）120mm至400mm時，一般用兩種K值探頭采用直射波（bō）法（fǎ）在焊接（jiē）接頭的雙麵雙側進行檢測，兩種K值探頭的折射角相差應不小於10o。

Ⅳ）應（yīng）進行橫向（xiàng）缺陷的檢測。檢測時（shí），可在（zài）焊接接頭的兩側邊緣使探（tàn）頭與焊接中心線成10o～20o作兩（liǎng）個方向的（de）斜平（píng）行掃查。

⑶ C級檢測

采用C級檢測（cè）時應將焊接接頭的餘（yú）高磨（mó）平，對焊（hàn）接接頭兩側斜探頭掃查經過的母材區域要用（yòng）直探頭進行檢測。

Ⅰ）母材厚度為8mm～46mm時（shí），一般用兩種K值探頭采用直射波法（fǎ）和（hé）一（yī）次反射波法在焊接（jiē）接頭的單麵雙側進行檢測。兩種探頭的折射角相差應（yīng）不小於10o，其中一（yī）個折射（shè）角（jiǎo）應為45 o。

Ⅱ）母材厚度為大於46mm至400mm時，一般用兩種K值探頭采用直射波法在焊接（jiē）接（jiē）頭的雙麵雙側進行（háng）檢測，兩種探頭的折射角相差應不小於10o。對於單側坡口角度小於5o的窄間隙焊縫，如有可能應增加（jiā）對檢測與坡口表麵平行缺陷的有效檢測方法。

Ⅲ）應（yīng）進行橫向缺陷的（de）檢測。檢測時，將探頭放在焊縫及熱影響區（qū）上作兩個（gè）方向的平行掃查。

2）超聲檢測工藝

a）探頭選擇

⑴ 探頭K值選擇

 斜探頭的K值（角度）選取可參照表（biǎo）5.4的規定。條件允許時應盡量采用較大K值探頭。

               推薦采用的探頭K值（單位：mm ）        表5.4

板厚T（mm）	K值
6～25	3.0～2.0（72°～60°）
＞25～46	2.5～1.5（68°～56°）
＞46～120	2.0～1.0（60°～45°）
＞120～400	2.0～1.0（60°～45°）

⑵ 探頭檢測頻率

檢測頻率一般（bān）為2MHz～5MHz。

b）距離-波幅（fú）曲線的繪製

⑴ 距離-波幅曲線應按所用探頭和儀器在試塊上實（shí）測的數據（jù）繪製而成，該曲線（xiàn）族由評定線、定量線和判廢線（xiàn）組成。如圖4-8所示（shì）。如果距離-波幅（fú）曲線繪製在熒光屏上（shàng），則在檢測範圍（wéi）內（nèi）不低於熒（yíng）光屏滿刻度的20%。

                         圖5.1  距離（lí）-波（bō）幅曲線

2）距離-波幅曲線（xiàn）的靈敏度選擇

Ⅰ）壁厚為6mm～120mm的焊接接頭，其距離（lí）-波（bō）幅曲線靈敏（mǐn）度按表5.5的規定。

Ⅱ）壁厚大於120mm至400mm的焊接接頭，其距離-波幅曲（qǔ）線靈敏（mǐn）度按表5.6的規定。

距（jù）離-波幅曲（qǔ）線的靈敏（mǐn）度                        表5.5

試塊型（xíng）式	板厚mm	評定線	定量線	判廢線
CSK-ⅡA	8～46	Φ2×40-18dB	Φ2×40-12dB	Φ2×40-4dB
	＞46～120	Φ2×40-14dB	Φ2×40-8dB	Φ2×40+2dB
CSK-ⅢA	8～15	Φ1×6-12dB	Φ1×6-6dB	Φ1×6+2dB
	＞15～46	Φ1×6-9dB	Φ1×6-3dB	Φ1×6+5dB
	＞46～120	Φ1×6-6dB	Φ1×6	Φ1×6+10dB

                

 

距離-波幅曲線的靈敏度（dù）                       表5.6

試塊型式	板厚（mm）	評定線	定（dìng）量線	判廢線
CSK-ⅣA	＞120～400	Φd-16dB	Φd-10dB	φd
注：d為橫孔直（zhí）徑，見表（biǎo）5。

⑶檢測橫向缺陷時，應將各線靈敏度均提高6 dB。

檢測（cè）麵（miàn）曲率半徑R≤W2/4時，距離-波幅曲線的繪製應在（zài）與被檢測麵曲率相同的對比試塊上進行。

⑷工（gōng）件的（de）表（biǎo）麵耦合損失和材質衰減應與試塊相同（tóng），否則按附（fù）錄F(規範性（xìng）附錄)的規定進行（háng）傳輸損失（shī）補償。在一跨距聲程內最大傳輸損失差（chà）小於（yú）或等於2dB時可不（bú）進行補償。

⑸掃查靈敏度不低於最大聲（shēng）程處的評定線靈（líng）敏度。

c）檢測方法

⑴平板對接焊（hàn）接接頭的超聲檢測

Ⅰ）為檢（jiǎn）測縱向缺陷，斜探頭應垂直於焊縫中心線放置在檢測麵上，作鋸齒型掃查。探頭前後移動的範圍應保證掃查到（dào）全（quán）部焊接（jiē）接頭（tóu）截麵，在保持探頭垂直焊縫作前後移動的同時，還應作10°~15°的左右移動。

⑵對電渣焊焊接接頭（tóu）還應增加與焊縫中心線成45°的斜向掃查。

⑶為觀察缺陷動態波形和區分缺（quē）陷信號或偽缺陷信號，確定缺陷的位置（zhì）、方向和形狀，可采用前後、左右、轉角、環繞等四（sì）種探頭基本掃查方式。曲麵工件（直徑小（xiǎo）於或等於500mm）的對接焊接接頭的超聲檢測

檢測（cè）麵為（wéi）曲麵時，可盡量按平板對接焊接（jiē）接頭的檢測方法（fǎ）進行檢測。對受幾何（hé）形狀限製，無（wú）法檢測的部位應（yīng）予以記錄。

縱縫檢測時，對比試塊的曲率半徑對檢測麵的曲率半徑之差應小於10％。根據工件的曲（qǔ）率和材料厚度選擇探頭K值，並考慮（lǜ）幾何臨界角（jiǎo）的限製，確保聲束能掃查到整個焊接接頭。探頭接觸麵修磨後，應注意探頭（tóu）入射點和K值變化，並（bìng）用曲率試塊作實際測（cè）定。應注（zhù）意熒光（guāng）屏指示的（de）缺陷深度或水平距離與缺（quē）陷實際的徑向（xiàng）埋藏深度或水平距離弧長（zhǎng）的差異，必要時應進行（háng）修正。環縫檢測時，對比試塊的曲率半徑應為檢測麵曲率半徑（jìng）的0.9~1.5倍

3）檢測（cè）結果（guǒ）的評定（dìng）和質量等級分類

a）缺陷評定

⑴超過評定（dìng）線的（de）信（xìn）號應注意其是否具（jù）有裂紋等危害性缺陷特征，如有懷疑時，應采（cǎi）取改變（biàn）探頭K值、增加檢測麵、觀察動態波型並結合結構（gòu）工藝特征作判定（dìng），如對波形不能判斷時，應輔以其他檢測方（fāng）法作綜合判定。

⑵缺陷的指示長度小於10mm時，按5mm 計。

⑶相鄰兩（liǎng）缺陷在同一直線上，其（qí）間（jiān）距小於其中較小的缺陷長度時，應作（zuò）為一條缺陷（xiàn）處理，以兩缺陷長度（dù）之和（hé）作為其指示長度（間距不計（jì）入缺陷長度）。

b）質量等級分類

焊接接頭質量分級按表5.7的規定進行

            焊（hàn）接接（jiē）頭質（zhì）量分（fèn）級（單（dān）位：mm）              表5.7  

等級	板厚T	反射（shè）波幅（所在區域）	單（dān）個（gè）缺陷指示長度L	多個缺陷累計長度L1
Ⅰ	6~400	Ⅰ	非裂紋類缺陷
	6~120	Ⅱ	L=1/3T，最小可（kě）為10，最（zuì）大不超過30	在任意9T焊縫（féng）長度範圍內L1不超過T
	>120~400		L=1/3T，最大不超過50
Ⅱ	6~120	Ⅱ	L=2/3T，最小為12，最大不超過（guò）40	在任意4.5T焊縫長度範圍內L1不超過T
	>120~400		最大不超過75
Ⅲ	6~400	Ⅱ	超過Ⅱ級者	超過Ⅱ級者
		Ⅲ	所有缺陷
		Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ	裂紋等危害性缺陷（xiàn）
注：（1）母材板厚不同時，取薄板側（cè）厚度值； （2）當焊縫長度不足9T（Ⅰ級）或4.5T（Ⅱ級）時，可按比例折算。當折算後的缺陷累計長度小於（yú）單個缺陷指示長度時，以（yǐ）單個缺陷指示長度為準。

4）超聲檢測原始記錄、報告

① 檢測原始記錄（每份原始記錄應有唯一的編號）

檢測原始記錄至少應包括以下內容：

a）委托單位、委托內容、委托單編號、檢測工藝卡編號。

b）被檢工件：工程名稱、工（gōng）件名稱（chēng）及編號、類別、規（guī）格、材質、焊接方法、熱處理狀況。

c）檢測設備：探傷儀型號及編號、探頭、試塊。

d）檢測標準和驗收等級

e）檢測規（guī）範、檢測技術等級、探頭K值、探頭頻率、檢測麵和檢測靈（líng）敏度。

f）檢測部位及缺陷的類型、尺寸、位置和（hé）分布，應在草圖上予以說明。如（rú）有（yǒu）因結構、幾何（hé）形狀限製而檢測不到的部位也應（yīng）加說明。

g）檢測結果及質量（liàng）分級

h）檢測人員和責任人員簽字及其資格技術等級。

② 檢（jiǎn）測報告

檢測（cè）報告至少（shǎo）應包括以下內容：

a）委托單位、委托單編號、工藝（yì）卡編號、原（yuán）始紀（jì）錄編號（唯一性）。

b）被檢工件：名稱、規格、材質、焊（hàn）接方法、熱處理狀況。

c）檢（jiǎn）測（cè）設備：探傷儀型號及編號、探頭、試塊。

d）檢測標（biāo）準（zhǔn）和驗收等級。

e）檢測規範、檢測（cè）技術等級、探頭K值、探頭頻率、檢測（cè）麵和檢測靈敏度。

f）檢測部位及缺陷的類型、尺寸、位置和（hé）分布，應在草圖上予以說明（míng）。

g）檢測結果及質量（liàng）分級。

h）檢測（cè）人員和責任人員簽字及其資格技術等級。

磁粉（fěn）檢測工藝

1）檢測內容：

a）所有縱焊縫、環焊縫兩邊各100mm範圍；

b）人孔口角焊縫；

c）其他部位如（rú）計量口等角焊縫（féng）；

2）受檢表麵要求：

a）受檢表麵粗糙度Ra≤25μm。

b）受檢表麵及鄰近25㎜的（de）範圍內應清潔、幹燥，不得有油汙、浮鏽、塗料、焊渣及飛（fēi）濺（jiàn）。

3）有效檢測範圍：

a）電磁軛的磁極間距應控製在75~200㎜之間，檢測的有效區域（yù）為兩極（jí）連線（xiàn）兩側（cè）各50㎜的範圍內，磁化區域每次應（yīng）至少有（yǒu）15㎜的重疊。

b）受檢工件的每一受檢區域至（zhì）少應進行兩次磁化（huà），磁力線方向應相（xiàng）互垂直。條件允許時，可（kě）使用旋轉磁場磁化方法。

4）磁懸液的施（shī）加要求：

a）應確認整個受（shòu）檢表麵能被磁懸液良好地（dì）濕潤後，才可施加磁懸液。

b）磁懸（xuán）液的（de）施加（jiā）可采用（yòng）噴、澆方（fāng）法，不可采用刷塗法，無（wú）論采用哪種方法，均不應使檢測麵上磁懸（xuán）液的流速過快。

c）磁懸液必須在通電（diàn）時間內施加完畢，通電時間（jiān）宜為（wéi）1~3s。為保證磁化（huà）效果應至少（shǎo）反複（fù）磁化兩次，停施磁懸（xuán）液至（zhì）少1s後才可停止磁化。已（yǐ）形成的磁痕不得被流動著的懸浮液所破壞。

d）熒光磁懸液應按自下而（ér）上的順序施加。

5）磁痕的觀察和記錄

a）磁痕的（de）觀察應在磁痕形成後（hòu）立刻進行。受（shòu）檢麵（miàn）存在下列磁痕為無關顯示：

b）斷麵突變顯示

c）磁極顯（xiǎn）示

d）表麵粗糙顯示

e）材質邊界顯示

f）沾（zhān）汙顯示, 其他一切磁痕顯示均作為相關顯示處理。

6）複檢

a）當出現下列情況之（zhī）一時，應進行複檢。

b）檢（jiǎn）測（cè）結束（shù）時（shí），用靈敏度試片驗證靈敏度不符合要求時（shí）；

c）發現檢測過程中操作方法有誤時。

7）磁粉檢測（cè）質量分級

a）不允許存在的缺陷。

b）不允（yǔn）許存在任何（hé）裂紋和白點；

c）緊固件和軸類零件不（bú）允許任（rèn）何橫向缺陷顯示。

d）焊接接頭的磁粉檢（jiǎn）測質量（liàng）分級：焊接接（jiē）頭的磁粉檢測質量分級見表5.8

e）受壓加工部件和材料磁粉檢（jiǎn）測質量（liàng）分（fèn）級

 

焊接（jiē）接頭的磁粉檢測質量（liàng）分級（jí）       表5.8

等級	線性缺陷磁痕	圓性（xìng）缺陷磁痕 （評定框尺寸為35mm×100mm）
Ⅰ	不允（yǔn）許	D≤1.5，且在評（píng）定框內（nèi）不大於（yú）1個
Ⅱ	不允許	D≤3.0，且（qiě）在評定框內不大於2個
Ⅲ	L≤3.0	D≤4.5，且在評定框內不大於4個（gè）
Ⅳ	大於Ⅲ級
注：L表示線性缺陷磁痕長度，mm;D表（biǎo）示圓形缺陷（xiàn）磁痕長徑，mm

受（shòu）壓加工部件和材料磁粉檢測質量分（fèn）級見（jiàn）表5.9

 

受壓（yā）加工部件和（hé）材（cái）料磁粉檢測質（zhì）量分級（jí）        表5.9

等級	線性缺陷磁痕（hén）	圓性缺陷磁痕 （評定框尺寸為2500mm2，其中一條矩形邊長最大為150mm）
Ⅰ	不允許	D≤2.0，且在評定框內不大於1個
Ⅱ	L≤4.0	D≤4.0，且在評定框內不（bú）大於2個
Ⅲ	L≤6.0	D≤6.0，且在評定框內（nèi）不大於（yú）4個
Ⅳ	大於Ⅲ級
注（zhù）：L表示線性缺陷磁痕（hén）長度，mm;D表示圓形缺陷磁（cí）痕長徑，mm

8）綜合評（píng）級（jí）

在圓形缺陷評定區內同（tóng）時存在多種缺陷時，應進（jìn）行綜合評級。對各（gè）類（lèi）缺陷分別評定級別，取質量等級最低的級（jí）別作為（wéi）綜合評級的級別；當各類缺陷的級（jí）別相同時，則降（jiàng）低一級（jí）作（zuò）為綜合（hé）評級的（de）級別。

5.6.1.7 鏽蝕檢測

對鏽蝕的杆（gǎn）件、連接處容易積灰、積水的部位、幹濕交替影響部位、隱（yǐn）蔽部位，先進行防腐塗層損傷檢查，若防（fáng）腐塗層損傷嚴重，則（zé）進行鏽蝕程度檢測，並采用遊標（biāo）卡尺、或超聲測厚儀進行必（bì）要（yào）的測量（liàng）。

5.6.1.8 鋼材化學成分和力學性（xìng）能的檢驗

如需取樣檢測鋼材化學成分與力學性能，則采用裏氏硬度計對（duì）各類鋼材的表麵硬度進行測試，估算鋼材抗拉強度的範圍。采用取樣法及光譜法對主材（cái）各化學主要成分進行（háng）分析（xī）。

5.6.1.9 高強螺栓現場檢驗

采（cǎi）用（yòng）扭矩扳手對受力重點區域構件的高強螺栓現場檢驗：先用小錘敲擊每一個螺栓螺母（mǔ）的一側，同時用手指按住相對的另一側，以檢查高強度螺栓有無漏（lòu）擰。對於扭矩係數的檢（jiǎn）查，每個節點先在螺杆（gǎn）端麵和螺母上畫（huà）一直線，然後將螺母擰鬆，再用扭矩扳手（shǒu）重新擰緊，使二線重合，此時測得的扭矩值應在0.9Ms～1.1Ms範圍內，按下式計算：

Ms=K*P*D

式中（zhōng）,

Ms———檢查扭矩；

K———扭矩係數；

D———螺栓公稱直徑（jìng）；

P———高強度螺（luó）栓設計預拉力。

如發現有不符合標準的，應再擴（kuò）大檢查，如仍有不合格（gé）者，則整個節點的高強度螺栓應重新擰緊。

5.6.2混凝土基礎檢測

5.6.2.1 基礎混（hún）凝土強度測試（shì）

使用超聲回彈法（fǎ）綜合法或回彈法等非破損方法對混凝土（tǔ）梁、柱、板等構件進行砼強度測（cè）試（shì），同類構件的抽樣數量應不（bú）少於（yú）10個（以有缺（quē）陷的構件為先）。對於構件表麵有水（shuǐ）泥砂漿層的，需鑿開20cm×20cm大小，露出混凝土表麵（miàn），便於儀器檢測（cè）。

 采用回彈法或超聲回彈法（fǎ）綜合檢（jiǎn）測混凝土強度時，若檢測條件與相應測強曲線的適用條（tiáo）件有較大差異時，應鑽取混凝土均芯（xīn）樣進行抗壓強度試驗法修正（zhèng）。每個檢測單元芯（xīn）樣（yàng）試件的數量宜（yí）為3～6個。為了結構（gòu）的安全性，鑽芯時（shí）盡可能選取受力較小部位。

對混凝（níng）土（tǔ）構件進行（háng）碳（tàn）化深度檢測，檢測構件（jiàn）混凝土是否碳化。混凝土碳化深度可采用噴射酚酞或彩虹試劑的方法進行測試，當混凝（níng）土碳化深（shēn）度（dù）檢測與回彈法測強結合（hé）時（shí），取測點的平（píng）均值作為碳（tàn）化深度的代表值。

5.6.2.2 基礎鋼（gāng）筋檢測

對於（yú）混凝（níng）土構件配筋情況的檢測應包括鋼筋的種類、位置、數量和直徑等檢測（cè），主要受（shòu）力構件配筋情況的檢測宜采用全數普（pǔ）查和重點抽查相結合的方法進行，用雷達波法或電磁感應法進行非破損普查，重點（diǎn）部位用鑿開混凝土的方法進行（háng）抽查。

混凝土的保護層厚度（dù）檢測可采用重點抽查方式（shì）進行，應根據構件的類型（xíng）、工作條件、損傷狀況及混凝（níng）土質量劃分檢測單元。按構件的類型取平均（jun1）值作為保護層厚（hòu）度的代表值，但應給出最小（xiǎo）保護層（céng）厚度。檢（jiǎn）測方法（fǎ）可使用鋼筋探測儀對構件保護層（céng）厚度鋼筋分布（bù）及數量進行檢測，對於鋼（gāng）筋的種類和類型可采用破損法鑿除混凝土表麵保護層（céng），露出（chū）鋼筋後用遊標（biāo）卡尺測（cè）出鋼筋直徑，並觀測鋼筋的型號。