1檢測（cè）前，應對超聲儀的主要技術指標（如斜（xié）探頭入射點（diǎn）、斜率K值或角度）進行檢查確認；應根據所測工件的尺寸（cùn）調整（zhěng）儀器時基線，並應繪製距離-波幅(DAC)曲線。2 距離-波（bō）幅(DAC)曲線應由選用的儀器、探頭係統在對比試塊上的（de）實測數據繪製而成。當探（tàn）傷麵曲率半徑（jìng）R小於等於W2/4時，距（jù）離-波幅(DAC)曲線（xiàn）的繪製應（yīng）在曲麵對比試塊（kuài）上進行。距離﹣波幅(DAC)曲線（xiàn）的繪製應符合下列要求： 1 繪製成的距離-波幅曲線（圖（tú）7．3．2）應由評定線EL、定（dìng）量（liàng）線SL和判廢線（xiàn）RL組成。評定線（xiàn）與定量線之間（包（bāo）括評定線）的區域規定（dìng）為（wéi）Ⅰ區，定量線與判廢線之間（包（bāo）括定量線）的區域規定為Ⅱ區，判廢線及其以上區域規定為Ⅲ區。
圖7．3．2 距離-波幅曲線示意圖（tú）
2 不同檢驗等（děng）級所對應的靈敏度要求應符合表7．3．2的規定。表（biǎo）中的DAC應以（yǐ）Φ3橫通（tōng）孔作為標準反射體（tǐ）繪製距離-波幅曲（qǔ）線（即DAC曲線）。在滿足被檢工件最大測試厚度的（de）整（zhěng）個範圍內繪製的距離-波幅曲線在探傷儀熒（yíng）光屏上的（de）高度不得低於滿刻度的20％。
3 超聲波檢測應包括探測麵的修整、塗抹耦合劑、探傷作業、缺陷的評定等步驟。4 檢測前應對探測麵進行修整或打磨，清除焊接飛濺、油垢及其他雜（zá）質，表麵粗糙度（dù）不應（yīng）超過6．3μm。當采用一次反射或串列式掃查檢測時，一（yī）側修整（zhěng）或（huò）打磨區域寬度應大於2．5Kδ；當采用直射（shè）檢測時，一側修整或打磨區域寬度應（yīng）大（dà）於1．5Kδ。5 應根據工件的不同厚度選擇（zé）儀器時基線水（shuǐ）平、深度或聲程的調節。當探傷麵為（wéi）平麵或曲率半徑（jìng）R大於W2/4時，可在對比（bǐ）試塊上進行時（shí）基線的調節；當探（tàn）傷麵曲率半徑R小於等於W2/4時，探（tàn）頭楔塊應磨成與工件（jiàn）曲麵相吻合的形狀，反射體的布置可參照對比試塊（kuài）確定，試塊寬度應按下式（shì）進行計算：
b≥2λS/De （7．3．5）
式中：b——試塊寬度(mm)； λ——波（bō）長(mm)； S——聲程(mm)； De——聲源有效直徑(mm)。6 當受檢工（gōng）件的表麵耦合損失及材質衰減與試塊不同時，宜考慮表麵補償或（huò）材質補償。7 耦合劑應具（jù）有良好透聲性和適宜流動性，不應對材料和人體有損傷作用，同時應便於檢測後清（qīng）理。當工件處於水平（píng）麵上檢測時（shí），宜選用液體（tǐ）類耦合劑；當工件處於豎立麵檢測（cè）時，宜選用糊狀（zhuàng）類耦合劑。8 探（tàn）傷靈敏度不應低於評定線靈敏度。掃（sǎo）查速度不應大於（yú）150mm/s，相鄰（lín）兩次探頭移動區域應保持（chí）有探頭寬度10％的重疊。在查找缺陷時，掃查方式可（kě）選用鋸齒形掃查、斜平（píng）行（háng）掃查和（hé）平行掃查。為確定缺陷的位置（zhì）、方向、形狀、觀（guān）察缺（quē）陷動態波形，可采用前後、左右、轉角、環繞等四種探頭掃查方式（shì）。9 對所有反射波幅超過定量線的缺陷，均應確定其位置、最大反射波幅所在區（qū）域和缺陷指（zhǐ）示長度。缺陷指示長度的測（cè）定可采用以下兩種方法： 1 當缺陷反（fǎn）射波隻有一個高點時（shí），宜用降低6dB相對靈敏度法測定其長度； 2 當缺陷反射波有多個高點時，則宜（yí）以缺陷兩端反射波極大值之處的波高降低6dB之間探頭的移動距離，作為缺陷的指示長度（圖7．3．9）。
圖7．3．9 端點峰（fēng）值測長法
3 當缺（quē）陷反射波在Ⅰ區未達到定量線時，如（rú）探（tàn）傷者認為（wéi）有必要記錄時，可將探頭左右（yòu）移動，使缺陷反射波幅降低到評定線，以此測定缺陷的指示長（zhǎng）度。
10 在確定缺陷類型（xíng）時，可將探頭對準缺陷作平動和轉動掃查，觀察波形（xíng）的相應變化，並可結合操作者（zhě）的工程經（jīng）驗（yàn）作出判斷。
