1.什麽是無損探傷/無(wú)損檢測?
答:(1)無損探傷是在(zài)不損壞工件或原材料工作狀態的(de)前提下,對被(bèi)檢驗部件的表麵和內部質(zhì)量進行檢查的一種測試手段。
(2)無損檢測:Nondestructive Testing(縮寫 NDT)
2、常用(yòng)的探(tàn)傷(shāng)方法有哪些?
答:無損檢測方法很多據(jù)美國國家(jiā)宇航局調研分析,認為可分為(wéi)六大類約70餘(yú)種。但在實際應用中比較常見的有以下幾種:
常規無損檢測(cè)方法有:
●超聲檢測 Ultrasonic Testing(縮寫 UT);
●射線檢測 Radiographic Testing(縮寫 RT);
●磁粉檢測 Magnetic particle Testing(縮寫 MT);
●滲(shèn)透檢驗 Penetrant Testing (縮寫 PT);
●渦流檢測Eddy current Testing(縮寫 ET);
非常規無損檢(jiǎn)測技術有:
●聲發射Acoustic Emission(縮寫(xiě) AE);
●泄漏檢測Leak Testing(縮寫 UT);
●光全息照相Optical Holography;
●紅外熱成象Infrared Thermography;
●微波檢測 Microwave Testing
3、超聲波(bō)探傷(shāng)的基本原理是什麽?
答:超聲波探傷儀的種(zhǒng)類繁多,但在實際的探傷過程,脈衝反射式超聲波探傷儀(yí)應用的最為廣泛。一般在均勻的材(cái)料中,缺陷(xiàn)的存在將造成材料的不連續,這(zhè)種不 連續往(wǎng)往又造成聲阻抗的不一致(zhì),由反射定理我們知道,超聲(shēng)波在兩種不同聲阻抗的介質的交界麵上將(jiāng)會發生(shēng)反射(shè),反射回來的能量的大小與交界麵兩邊介質聲阻抗 的差異和交界麵的取向、大小有關。脈衝反射式超(chāo)聲波探傷儀就是根據這個原理設計的。
目前便攜 式的脈衝反射式超聲波探傷儀大部分是A掃描方式的,所謂(wèi)A掃描顯示方式即顯示(shì)器的橫(héng)坐標是超聲波在被檢測材料中的傳播時間或者傳播距離,縱坐(zuò)標是超聲波反 射波的幅值。譬如,在一(yī)個鋼(gāng)工件中存在一個缺陷,由於這個缺陷的存在,造成了缺陷和鋼材料之間形成了(le)一個不同介質之間的交界麵(miàn),交界麵之間的聲阻抗不同, 當發射(shè)的超聲波遇到這個界(jiè)麵之後,就會發生反射(見(jiàn)圖1 ),反射回來的能量又(yòu)被探頭接受到,在顯示(shì)屏幕中橫坐標的一定的位置就會顯示出來一個(gè)反(fǎn)射波的波形,橫坐(zuò)標的這個位置就是缺陷在被檢測材料中的深度。這個 反射波的高度和形狀(zhuàng)因不同的缺陷而不同,反映了缺陷的性質。
4、超(chāo)聲波探傷的主要特性有哪(nǎ)些?
答:(1)超聲波(bō)在介質中傳播時(shí),在不(bú)同質界麵上具有(yǒu)反(fǎn)射的特性,如遇到缺陷,缺陷的尺寸等於或大於超聲波波長時,則超聲波在缺陷上反射回來,探傷儀可將反射波顯示出來(lái);如(rú)缺陷的尺寸甚至小於波長時,聲(shēng)波將繞過缺陷而不能反射;
(2)波聲的方向性好,頻率(lǜ)越高,方向性越好,以很窄的波束向介質中輻射,易於確定缺(quē)陷的位置。
(3)超聲波的傳播能量(liàng)大,如頻率為1MHZ(100赫茲)的超生波(bō)所傳播的能量,相當於振幅相同而頻率為1000HZ(赫茲)的聲波(bō)的(de)100萬倍。
5.超聲波探(tàn)傷與X射(shè)線探傷相比較有(yǒu)何優的缺點?
答:超聲波探傷比X射線探傷具有較高的探傷靈敏度、周期短、成本低(dī)、靈活方便、效率(lǜ)高,對人體無害等優點;缺(quē)點是對(duì)工作表麵要求平(píng)滑、要求富有(yǒu)經驗的檢驗人員(yuán)才能辨別缺陷(xiàn)種類、對缺陷沒有直觀性;超(chāo)聲波探傷適合於厚度較大的(de)零件檢驗。
6、超生波探傷板厚14毫米時(shí),距離波幅曲線上三條主要曲線的(de)關係怎樣?
答(dá):測長線(xiàn) Ф1 х 6 -12dB
定量線 Ф1 х 6 -6dB
判度線(xiàn) Ф1 х 6 -2dB
7、簡述超生波探傷中,超生波在介質中傳播時引起衰減的原因是什麽(me)?
答:(1)超(chāo)聲波的擴(kuò)散(sàn)傳播距離增加,波(bō)束截麵愈來愈大,單位麵積上的能量減少。
(2)材質(zhì)衰(shuāi)減一(yī)是介質粘滯性引起的吸收(shōu);二是(shì)介質界麵雜亂反射引起的(de)散射。
8、用超(chāo)生(shēng)波探(tàn)傷(shāng)時,底波消失可能是什麽原因造成的?
答:(1)近表表大缺陷;(2)吸收性缺陷(xiàn);(3)傾斜(xié)大缺(quē)陷;(4)氧化(huà)皮與鋼板結合不好(hǎo)。
9、CSK-ⅡA試塊(kuài)的主要作用是什麽?
答:(1)校驗靈敏度(dù);(2)校準掃描線性。
10.超聲波探傷(shāng)選擇探(tàn)頭K值有哪三條原則?
答:(1)聲束掃查到整個焊縫(féng)截(jié)麵;
(2)聲束盡量垂直於主要缺陷;
(3)有足夠的靈敏度。
11、用超生波對餅形大鍛件探傷(shāng),如果用底波調(diào)節探傷起始靈敏度對工作底麵有何要求?
答:(1)底麵必須平行於探傷麵;
(2)底麵必須平整並且有一定的光潔度。
12、超聲波探傷儀主要有哪(nǎ)幾部分組成?
答:主要有電路同(tóng)步(bù)電路、發電路(lù)、接收電路、水平掃描電(diàn)路(lù)、顯示器和電源等部份組成。
13、發射電路的主要作用是什麽?
答:由同步電路(lù)輸入的同(tóng)步(bù)脈衝信號,觸發發射電路工作(zuò),產生高頻(pín)電脈衝信號激勵晶片,產生高頻振(zhèn)動,並在介質內產生超聲波。
14、超聲波探傷中(zhōng),晶片表麵和被探工件表麵之間使用耦(ǒu)合(hé)劑的原因是什麽?
答:晶片表麵和被檢工(gōng)件表麵之間的(de)空氣間隙,會使超聲波(bō)完全反射,造成探傷結果不準確和無法探傷(shāng)。
15、JB1150-73標準中規定的判別缺陷的三種(zhǒng)情況是什麽?
答(dá):(1)無底波隻有缺陷的多次反射波。
(2)無底波隻有多個紊亂的缺陷波。
(3)缺(quē)陷波和底波(bō)同時存在。
16、JB1150-73標準中規定的距離――波幅曲線的用途是(shì)什麽?
答:距離――波幅曲線主要用於判定缺(quē)陷大小(xiǎo),給驗收標準提供依據它是由判廢(fèi)線、定(dìng)量線、測長線三條曲線組成;
判廢線――判(pàn)定缺陷的最大允許當量(liàng);
定量線――判定缺陷的大小、長度的(de)控製線;
測長線――探傷起始靈敏度控製(zhì)線。
17、什麽是超聲場?
答:充滿(mǎn)超聲場能量的空間叫超聲場。
18、反映超聲場特征的主要參數是什麽?
答:反(fǎn)映超聲場(chǎng)特征的(de)重要物理量有(yǒu)聲強、聲壓聲阻抗、聲束擴散(sàn)角、近場和遠場區。
19、探傷儀最重要(yào)的性能指標是什麽?
答:分辨力、動態範圍、水平線性、垂(chuí)直線性、靈敏度、信(xìn)噪比。
20、超聲波探傷儀近(jìn)顯示方式可分幾種?
答:(1)A型顯示示波屏橫(héng)坐標代表(biǎo)超聲波傳遞播時間(或距離),縱坐(zuò)標代表反射回波的高度(dù);(2)B型顯(xiǎn)示示波(bō)屏橫坐標代表超(chāo)聲波傳遞播時間(或距 離(lí)),這類顯示得到的是探(tàn)頭掃查深度方向的斷(duàn)麵(miàn)圖;(3)C型顯示儀(yí)器示波屏代表被檢(jiǎn)工件的投影麵,這種顯示能繪出缺陷的水平投(tóu)影位置,但不能給出缺陷的埋藏深度。
21、超聲波探頭的主要(yào)作用是什麽?
答(dá):1、 探頭是一個電聲換(huàn)能器(qì),並能將返回來的聲波轉換成(chéng)電脈衝;2、控製超聲波的傳播方(fāng)向和能量(liàng)集中的程(chéng)度,當改變探頭入射(shè) 角或改變超(chāo)聲波(bō)的擴散角時,可(kě)使聲波的主要能(néng)量(liàng)按不同的角度射入介質內部或改變聲波的指向性(xìng),提高分辨率(lǜ);3、實現波型轉換(huàn);4、控製工作頻率;適用於不 同的工作條件。
22、為什麽要加強超波探傷合錄和(hé)報告工作?
答:任何工件經過超聲波探傷(shāng)後,都必須出據檢驗報告以作為該工作質量好壞(huài)的憑證,一(yī)份(fèn)正確的(de)探傷報告,除建立可靠的探測方法和結果外,很大程度上(shàng)取決於原始記錄和(hé)最後出(chū)據的探傷報告是非常(cháng)重(chóng)要的,如果我們檢查了工件不作記錄也不出報(bào)告,那麽探傷檢(jiǎn)查就毫無意義。
23、無損檢測有哪些應用
應用時機:設(shè)計(jì)階段;製造過程;成品檢(jiǎn)驗;在役檢查。
應用對象:各類材料(金屬、非金屬等);各種工件(jiàn)(焊接件、鍛(duàn)件、鑄件等);各種工程(道(dào)路建設、水壩建設、橋梁建設(shè)、機(jī)場建設(shè)等)。http://www.industryinspection.com
24、超聲波焊縫探傷時為缺陷定位儀器時間(jiān)掃描線的調整有哪幾種方法(fǎ)?
答(dá):有水平定位儀、垂(chuí)直定位、聲程定位三種方法
25、在超聲波探傷(shāng)中把焊縫中的缺陷分幾類?怎樣進行(háng)分類?
答:在(zài)焊縫超聲波探傷中一般(bān)把焊縫中的缺陷 分(fèn)成三類:點狀缺陷、線狀缺陷、麵狀缺陷。
在分類中把長度小於10mm的缺陷叫做點狀缺陷;一般不測長,小於10mm的缺陷(xiàn)按5mm計。把長度大於10mm的缺陷叫(jiào)線狀缺陷。把長度大於(yú)10mm高(gāo)度大於3mm的缺陷叫麵狀(zhuàng)缺陷。
26、超聲波試塊的作用是什麽?
答:超(chāo)聲波試塊的作用是校驗儀器和探頭的(de)性能(néng),確定探傷起始靈敏度,校準掃描線(xiàn)性。
27、什麽是斜探頭折射角β的正確值?
答:斜探頭折射角的正確值(zhí)稱為K值,它等於(yú)斜探頭λ射點至反射點的水(shuǐ)平距離和相應深度的比值。
28、當局部無損探傷檢查的焊縫中發現有不允(yǔn)許的缺陷時如何辦?
答:應在缺陷的延長方向或可疑部位作補充射線探(tàn)傷。補充檢查後對焊縫質量仍然有懷疑對(duì)該焊縫(féng)應全部探傷。
29、超聲波探(tàn)傷儀中同步信號發生器的主要作用是什麽?它主要控製哪二部分電路(lù)工(gōng)作?
答:同步電路產生同步脈衝信(xìn)號,用以觸發儀器各部分(fèn)電路同時協調工作,它主要控製同(tóng)步發射和同步掃描二部分電路。
30、無損(sǔn)檢測(cè)的目的?
答:1、改進製造(zào)工藝(yì);2、降低製(zhì)造成本(běn);3、提高產品的可能性;4、保證設備的安全運行。
31.超(chāo)探儀的作用及主要應用行業
超(chāo) 探儀是一種便攜式工業無損探傷儀器,它能(néng)夠快速便捷、無損傷、精確地進行(háng)工件內部多(duō)種缺陷(焊縫、裂紋、夾雜、折疊(dié)、氣孔、砂眼等)的檢測、定位、評估和 診斷。既可以用於實驗(yàn)室,也可以用於工(gōng)程現場。本儀器能夠廣泛地應用在製造(zào)業、鋼鐵冶金業、金屬加工業、化(huà)工業等(děng)需要缺陷檢測和質量控製的領域,也廣泛應 用於航空航天、鐵路交通(tōng)、鍋爐壓力容器等領域的在役安全檢(jiǎn)查與壽命評估。它是無(wú)損檢測行(háng)業的必(bì)備儀器。
編號 |
應用行業 |
1 |
電力 |
2 |
鍋爐與壓力容器 |
3 |
機械 |
4 |
鋼(gāng)鐵工(gōng)業(yè) |
5 |
鋼(gāng)結構 |
6 |
石油(yóu) |
7 |
化工 |
8 |
鐵路 |
9 |
航天航空(kōng) |
10 |
船舶 |
11 |
管道 |
12 |
高校 |
13 |
永磁 |
14 |
科研院(yuàn)所 |
15 |
軍工 |
16 |
陶瓷 |
32.有關超聲波探傷(shāng)的國家標準和行(háng)業標準 |
超聲波探傷國家標準和行(háng)業標準有: |
33.斜探頭(tóu)K值(zhí)與角度的對應關(guān)係
NO. |
K值 |
對應角度 |
1 |
K1 |
對應45度(dù) |
2 |
K1.5 |
對應56.3度 |
3 |
K2 |
對應63.4度 |
4 |
K2.5 |
對應68.2度 |
5 |
K3 |
對應(yīng)71.6度 |
34. 焊縫探傷超聲波(bō)探(tàn)頭的選擇方案參考
編號 |
被測工件厚度 |
選擇探頭和斜率 |
選擇探頭和斜率 |
1 |
4—5mm |
6×6 K3 |
不鏽鋼:1.25MHz |
2 |
6—8mm |
8×8 K3 |
|
3 |
9—10mm |
9×9 K3 |
|
4 |
11—12mm |
9×9 K2.5 |
|
5 |
13—16 mm |
9×9 K2 |
|
6 |
17—25 mm |
13×13 K2 |
|
7 |
26—30 mm |
13×13 K2.5 |
|
8 |
31—46 mm |
13×13 K1.5 |
|
9 |
47—120 mm |
13×13( K2—K1) |
|
10 |
121—400 mm |
18×18 ( K2—K1) |
注:以上方案僅作參考,各企業可視具體(tǐ)情況稍作改動
35.探頭型號表
注:下(xià)表(biǎo)所列探頭型號僅供探傷時參考
產品(pǐn)名稱(chēng) |
頻率(MHZ) |
晶片麵積(jī)(mm2) |
說明 |
直(zhí)探頭(硬保護膜) |
0.5~10 |
Φ8 Φ10 Φ14 Φ20 Φ24Φ30 |
|
直探頭(tóu)(軟保(bǎo)護膜(mó)) |
0.5~5 |
Φ10 Φ14 Φ20 Φ24 |
|
雙晶片(piàn)直探頭 |
2.5~5 |
10×12×2Φ14×2Φ20×2 |
F5 F10 F15 F20 F30 |
斜探(tàn)頭 |
1~5 |
9×9 8×8 10×12 Φ14 |
30o40o50oK1 K1.5 K2 K2.5 K3 |
斜探頭 |
1~5 |
18×18 |
|
雙晶片(piàn)斜探頭 |
2.5 5 |
8×8×2 10×12×2 |
K1 K2 K3 |
表麵波探頭 |
2.5 5 |
9×9 10×12 13×13 |
HB-50 |
回波探頭 |
? |
? |
? |
小角管探頭 |
2.5 5 |
Φ14 Φ20 |
|
小角管探頭 |
5 |
6×6 5×7 |
K1 K2 K2.5 K3 |
小角管探頭 |
5 |
雙晶曲麵片 |
? |
板波探頭 |
1~5 |
20×20? 30×30 |
入射角由用戶定 |
爬波(bō)探頭 |
1~5 |
? |
|
薄波探頭 |
5 |
? |
可檢測5MM以下薄板 |
可變角探頭 |
2.5 5 |
10×10 |
角度可變(biàn)範圍0o~90o |
液浸式探頭 |
1~5 |
Φ10 Φ12 Φ14 Φ20 |
? |
充水探頭 |
1~5 |
Φ14 Φ20 |
? |
雙晶充水探頭 |
1~5 |
Φ14 Φ20 |
交距由用戶(hù)定 |
液浸聚(jù)焦探(tàn)頭 |
1~5 |
Φ14 Φ20 |
點聚焦線聚焦 |
接觸式(shì)聚焦直(zhí)探頭 |
2.5? 5 |
Φ14 Φ20 |
焦距10~60 |
接觸(chù)式聚焦斜(xié)探頭 |
2.5? 5 |
Φ14 Φ20 |
焦距10~60 |
常規(guī)測厚(hòu)探頭 |
1~5 |
? |
? |
小徑管測厚探(tàn)頭 |
1~5 |
Φ8 |
? |
中溫測厚探頭 |
1~5 |
? |
上限(xiàn)300℃ |
高溫測厚探頭 |
1~5 |
? |
上限500℃ |
深水探頭 |
1~5 |
? |
用於水下超聲探傷 |